去嵌(De-Embedding)為一種針對S參數的後處理技術，旨在將測試制具，探針，測試點，Via等結構造成的能量損失從待測物的S參數中移除。以上結構皆會對S參數產生不良影響，導致高估損耗值或者引入抖動，在需要精準的S參數的應用情況下可能會需要將這些影響移除，還原最單純的待測物特性。

• 艾肯創科提供上述不同方法的後處理來協助客戶得到更精準的量測值。