介電常數(Dielectric Constant, Permitivity, Dk)是材料的基本特性，代表了電磁波經過某個材料的電導率，在電子信號或者電波傳輸上他主要影響傳遞速度 延遲等面向，在電容方面他影響了電容值的大小。

損耗係數(Dissipation Factor, Loss Tangent, Df)也是材料的基本特性，他是一個衡量電磁波通過某個材料後的能量損耗大小，越高的損耗係數會消耗更多的能量，導致信號強度下降。

量測介電常數與損耗係數最常見的就是使用共振腔(Cavity Resonator)，共振腔基本原理為在一腔體內存在一個電磁波，這個電磁波信號通常都是以天線(Antenna)方式製造出來，量測塞入樣品前後的頻率偏移以及品質因數(Q Factor)就可以計算出樣品的介電常數(Dk)以及損耗係數(Df)。

艾肯創科提供不同頻率的共振腔，適合量測薄片樣品，諸如PCB板材，陶瓷片，PTFE，PET，Polyimide，Teflon等等材料。不同種類還有不同的測試條件適用的共振腔以及樣品限制條件不同，詳細情況請聯繫我們的業務窗口。

• SPDR

SPDR量測方法適用於測試1GHz到10GHz的頻率範圍，同時SPDR量測方法的每個共振腔僅能測試一個頻率點。
頻率：1, 3, 5, 7, 10 GHz
SPDR：
遵循IPC-TM-650 2.5.5.15標準，這是一種固定頻率（1, 3, 5, 7 GHz）的方法，厚度從100um到1mm取決於所選頻率。測試樣品的尺寸應為100mm x 100mm。SPDR方法是CCL公司測量其製造的材料的最流行方式。
• 工作頻率 - 1 GHz ~ 10 GHz
• 樣品厚度要求 - 0.5 ~ 2 mm
• 樣品尺寸要求 - 140 x 140 mm

• SCR

SCR方法可以測試的頻率範圍為10GHz到84GHz。根據待測物（MUT）的能力，一個腔體中可能包含5個頻率點。 遵循IPC-TM-650 2.5.5.13標準，這種方法可以在一個腔體中進行多頻率的測試（測試頻率和點取決於測試樣品）。厚度應該在10um到500um之間，具體取決於樣品的特性。樣品的尺寸應為80mm x 80mm。SCR測試方法用於測試超過10GHz的頻率，84GHz是其最高可測頻率。
• 工作頻率 - 10 GHz ~ 40 GHz
• 樣品厚度要求 - < 0.5 mm
• 樣品尺寸要求 - > 150 x 150 mm

• 電容法 Capacitance

根據IPC-TM-650 2.5.5.9標準，此方法可測試的頻率範圍為1Hz到1GHz。該方法可測試10um到1mm的厚度。這種方法與其他方法不同，因為在測試頻率方面，我們將使用LCR計量儀作為主要框架進行測試。
• 工作頻率 - 10kHz ~ 7 MHz
• 樣品厚度要求 - >2mm
•樣品尺寸要求 - 150 x 150 mm

• 外層線（Microstrip）

根據IPC-TM-650 2.5.5.5標準，此方法可使用8GHz至12GHz的頻率進行頻率掃描測試。樣品的厚度應在100um到1mm之間。這種方法是一種幫助我們測試一些需要Z軸測試方法的樣品的方式，例如玻璃纖維。

• 平衡型圓盤諧誫器 （BCDR）

遵循IEC 63185標準，此方法可在一個腔體中測試頻率從10GHz到110GHz。厚度應在10um到500um之間，具體取決於您需要的測試頻率。此方法可以幫助我們檢查一些產品，如雷達或衛星的方式。