TEST FIXTURE

Test fixture

U.3 CBB+CLB

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Capacitance S Parameter Measurement Fixtures

Capacitance S Parameter Measurement Fixtures

Capacitance S Parameter measurement fixtures

E_ISI1600 (for 1.6T Ethernet)

E_ISI1600 (for 1.6T Ethernet)

Coming soon
@Arcanum Advanced 艾肯創科 | (+886) 02 2796 6289

E_ISI800 (for 800G Ethernet)

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Ethernet ISI Board Test Fixture Solutions
E_ISI800 (for 800G Ethernet)

EDSFF (E1.S/E1.L)

EDSFF (E1.S/E1.L)

艾肯創科的 Gen 6 支援能力

Delta L 4.0 3.0

Delta L 4.0 3.0

Delta L 4.0 3.0 量測

Thermal Delta-L Coupon

Thermal Delta-L Coupon

Thermal Delta-L Test Coupon
The Thermal Delta-L test coupon is a dedicated test structure used to evaluate the electrical stability of PCB materials under temperature variation. By measuring changes in electrical length of transmission lines across different temperature conditions, this methodology effectively captures the actual temperature-dependent behavior of dielectric constant (Dk).

Thermal Dk & Df

Thermal Dk & Df

Thermal Dk & Df

Thermal S Parameter & Impedance

Thermal S Parameter & Impedance

Thermal S Parameter & Impedance

Characteristic Impedance

Characteristic Impedance

By using vector network analyzers (VNA) and real-time domain TDR instruments, S-parameter and impedance analysis can be performed on PCBs and discrete components. Combined with probe stations and probes of various pitch configurations, this setup enables accurate testing and analysis of PCBs or PCBAs with challenging geometries and access angles.

S Parameter

S Parameter

By utilizing vector network analyzers (VNA) and real-time domain TDR instruments, comprehensive S-parameter and impedance analysis can be performed on PCBs and electronic components. When combined with probe stations and probes with various pitch configurations, this setup enables accurate testing and analysis of PCBs or PCBAs with limited access or challenging probe angles.

Dk Df Analysis

Dk Df Analysis

By utilizing vector network analyzers (VNA) or LCR meters, and following IPC-TM-650 standards, a range of material characterization methods can be applied, including SPDR, SCR, and capacitance measurement techniques. Measurements are performed according to the specified frequency ranges and sample requirements, enabling accurate characterization and analysis of key material electrical properties.

OCP 3.0 CBB+CLB1+CLB2

OCP 3.0 CBB+CLB1+CLB2

OCP 3.0 CBB + CLB1 + CLB2

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