2025-06-11
展會與活動
艾肯創科出席 PCI-SIG DevCon 2025
艾肯創科出席 PCI-SIG DevCon 2025
艾肯創科再次參與 PCI-SIG DevCon，展示我們針對高速互連所打造的全方位測試解決方案，涵蓋從治具設計到進階驗證與訊號完整性分析的一站式服務。
在 #19 號攤位，我們展出了：
- PCIe Gen 5/6 測試治具方案
- OCP3.0 相容性測試板（Base + Load）
- Ethernet ISI 測試治具
- Bitwise x Arcanum 訊號產生與誤碼率測試解決方案
- 客製化 S 參數量測治具
我們很榮幸能與多家產業領導者一同受邀亮相，並在本次大會中展示 Arcanum 的技術實力與創新成果！
艾肯創科的一站式測試服務，致力於協助工程團隊加速開發、精準驗證，並以最高信心完成每一次設計挑戰。
