2025-12-16
公司動態
歡迎 ITEQ Corporation 團隊來訪艾肯創科實驗室
歡迎 ITEQ Corporation 團隊來訪 Arcanum 實驗室
本週，我們在實驗室接待了來自 ITEQ Corporation 的合作夥伴，針對 DK/DF 材料特性及其與實際高速測試挑戰之間的關聯，進行了深入交流。
這次交流的重點落在幾個與實際測試最相關的問題上：
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為什麼 DK/DF 的變化在 Gen5 / Gen6 訊號完整性（SI）中如此明顯？
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不同疊構（stack-up）如何影響測試治具的重複性？
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為了讓 SI 表現可預測，哪些材料特性是必須被穩定控制的？
作為討論的一部分，我們也檢視了 65 GHz Delta-L 量測結果——這是一個能實際觀察材料在高頻下穩定度，以及其如何轉化為真實治具效能的有效方式。
在艾肯創科，這類合作從來不只是一次「參訪」，而是為了持續打磨每一個 DK/DF、CBB，以及 Gen6 測試治具背後的工程邏輯。
如果你正投入 Gen5 / Gen6 的測試工作，敬請期待更多工程筆記的分享。
