特性阻抗(Characteristic Impedance)在電路設計上為最基本的電氣參數，量測阻抗通常使用TDR(Time Domain Reflectometer) 或者VNA(Vector Network Analyzer)搭配合適的探針進行量測。艾肯創科建置TDR與VNA測試設備提供客戶一個彈性的選擇。
支援以下條件:
支援單端與差分測試(Single Ended and Differential Impedance)
- 支援板內量測與阻抗條測試
- BGA區域下針測試
- 測試頻率 - Up to 20 GHz
- 符合IPC TM 650 2.5.5.12測試規範
- 板內測試使用探針台搭配顯微鏡進行測試
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