材料 Dk ／ Df 測法比較

Arcanum 在其服務項目中有「Dielectric Constant, Dk」與「Loss Tangent, Df」的檢測服務。

其中 Dk（介電常數）代表材料在電場作用下儲能的能力，而 Df（損耗正切，又稱 loss tangent）代表材料在高頻下能量損耗／散失的比例。

測法比較上，雖然網站沒有詳細列出所有測量系統的比較細節，但可引用 Intel Corporation 的「Electrical Characterization Design and Methodologies Guide」指出：在高頻 PCB 傳輸線設計中，材料參數 Dk、Df 對損耗 (insertion loss) 和效能影響極大。

實務上，測 Dk／Df 時須注意：

1. 試片設計（厚度、介質結構、耦合模式）會影響測量結果。
2. 頻率範圍：高頻設計（如 >20 GHz）對 Df 的敏感度更高。
3. 校正／除影響因素（例如探針、天線效應、板材邊界效應）是必要的。Intel 文獻指出某些簡化方法雖方便但可能低估損耗。

對於你所處系統櫃研發、設計、製造背景：若涉及高速數據／高頻訊號佈線，建議在材料選型階段將 Dk／Df 與量測方法同步納入設計流程，以避免後續訊號完整性 (SI) 或傳輸損耗風險。